Відбулася 35-а сесія Робочої групи ВОІВ з перегляду МПК

logo WIPOУ період з 11 по 15 квітня 2016 року в штаб-квартирі Всесвітньої організації інтелектуальної власності (ВОІВ) у м. Женева проходила 35-а сесія Робочої групи ВОІВ з перегляду Міжнародної патентної класифікації (МПК). У заході взяла участь українська делегація, до складу якої увійшли представники Державного підприємства «Український інститут інтелектуальної власності» (Укрпатент) – головний експерт відділу будівельної та гірничої справи Владислава Попко та головний експерт відділу фізико-хімічних технологій Владислав Гапочка.

На сесії були присутні представники організацій з інтелектуальної власності 21 країни світу, а саме: Німеччини, Австралії, Канади, Китаю, Єгипту, Іспанії, Сполучених Штатів Америки, Російської Федерації, Франції, Ірландії, Японії, Мексики, Норвегії, Республіки Корея, Румунії, Великої Британії, Сербії, Швеції, Швейцарії, Туреччини та України. Також для участі в сесії своїх представників делегували Європейське патентне відомство та Африканська регіональна організація з інтелектуальної власності.

У ході сесійних засідань було розглянуто й детально опрацьовано тридцять один проект з питань перегляду МПК в галузях механіки, хімії та електроніки для визначення тактики щодо подальшого реформування й розвитку МПК. А також було обговорено та уточнено визначення в рамках семи проектів МПК та опрацьовано сімнадцять проектів систематичної підтримки МПК.

Зміни та доповнення у викладені та формулюванні всіх рівнів МПК були ініційовані галузевими фахівцями з різних відомств та детально опрацьовані з лінгвістичної точки зору для забезпечення більш точного тлумачення та визначення сфери охоплення відповідних рубрик МПК.

За словами учасників заходу, долучення української делегації до роботи в межах засідання Робочої групи ВОІВ надало можливість своєчасно отримати вичерпну попередню інформацію стосовно змін, які відбуваються в МПК, що дуже важливо для їх подальшого оперативного впровадження в практичну роботу Укрпатенту, передусім експертизи.

Врахування в практичній діяльності отриманої під час сесії інформації також сприятиме забезпеченню ще більш ефективної гармонізації роботи національної патентної системи із сучасною міжнародною політикою в галузі інтелектуальної власності.

За матеіарами Укрпатенту

Регіони

Vinnytsya Lutsk Dniepropetrivsk Donetsk Zhytomyr Uzhgorod Zaporizhzhya Ivanofrankivsk Kyivska Kyrovograd Crimea Lugansk Lviv Mykolaiv Odessa Poltava Rivne Sumy Ternopil Kharkiv Kherson Khmelnytsky Cherkasy Chernigiv Chernivtsi
Київ

Публікації

June 2024
Mo Tu We Th Fr Sa Su
27 28 29 30 31 1 2
3 4 5 6 7 8 9
10 11 12 13 14 15 16
17 18 19 20 21 22 23
24 25 26 27 28 29 30

 

Випадкова стаття

  • 1
  • 2
  • 3

ІІІ Міжнародна конференція «Вимірювання,…

02-11-2015 Олена - avatar Олена

ІІІ Міжнародна конференція «Вимірювання, контроль та діагностика в технічних системах» у ВНТУ

У Вінницькому національному технічному університеті відбулась ІІІ Міжнародна конференція «Вимірювання, контроль та діагностика в технічних системах» (ВКДТС-2015). Організаторами конференції виступили Академія метрології України, Новий університет Лісабона (Португальська Республіка), Технічно-гуманітарна академія (м....

Володимир Семиноженко: Система електронн…

02-02-2012 user_kiev_3 - avatar user_kiev_3

Минулий рік був наповнений рішеннями у сфері інформатизації, на які ми так довго очікували — прийнято Концепцію розвитку електронного урядування, почав реалізовуватися проект електронної “Бібліотеки-ХХІ”, затверджений єдиний формат обміну даними...

журнал НАУКА СЬОГОДНІ №11-12 (2013)

29-03-2013 Олена - avatar Олена

журнал НАУКА СЬОГОДНІ №11-12 (2013)

журнал НАУКА СЬОГОДНІ №11-12 (2013) СКАЧАТИ Видання «Наука сьогодні». Періодичність: двічі на місяць. Метою журналу є забезпечення оперативною інформацією про події, здобутки, досягнення у сфері фундаментальних і прикладних наук, високих технологій як...