У період з 11 по 15 квітня 2016 року в штаб-квартирі Всесвітньої організації інтелектуальної власності (ВОІВ) у м. Женева проходила 35-а сесія Робочої групи ВОІВ з перегляду Міжнародної патентної класифікації (МПК). У заході взяла участь українська делегація, до складу якої увійшли представники Державного підприємства «Український інститут інтелектуальної власності» (Укрпатент) – головний експерт відділу будівельної та гірничої справи Владислава Попко та головний експерт відділу фізико-хімічних технологій Владислав Гапочка.
На сесії були присутні представники організацій з інтелектуальної власності 21 країни світу, а саме: Німеччини, Австралії, Канади, Китаю, Єгипту, Іспанії, Сполучених Штатів Америки, Російської Федерації, Франції, Ірландії, Японії, Мексики, Норвегії, Республіки Корея, Румунії, Великої Британії, Сербії, Швеції, Швейцарії, Туреччини та України. Також для участі в сесії своїх представників делегували Європейське патентне відомство та Африканська регіональна організація з інтелектуальної власності.
У ході сесійних засідань було розглянуто й детально опрацьовано тридцять один проект з питань перегляду МПК в галузях механіки, хімії та електроніки для визначення тактики щодо подальшого реформування й розвитку МПК. А також було обговорено та уточнено визначення в рамках семи проектів МПК та опрацьовано сімнадцять проектів систематичної підтримки МПК.
Зміни та доповнення у викладені та формулюванні всіх рівнів МПК були ініційовані галузевими фахівцями з різних відомств та детально опрацьовані з лінгвістичної точки зору для забезпечення більш точного тлумачення та визначення сфери охоплення відповідних рубрик МПК.
За словами учасників заходу, долучення української делегації до роботи в межах засідання Робочої групи ВОІВ надало можливість своєчасно отримати вичерпну попередню інформацію стосовно змін, які відбуваються в МПК, що дуже важливо для їх подальшого оперативного впровадження в практичну роботу Укрпатенту, передусім експертизи.
Врахування в практичній діяльності отриманої під час сесії інформації також сприятиме забезпеченню ще більш ефективної гармонізації роботи національної патентної системи із сучасною міжнародною політикою в галузі інтелектуальної власності.
За матеіарами Укрпатенту
Олена
Anna
