Японським ученим вдалося картувати наноструктури

Юкіо Такахасі (Університет Осака, Японія) з групою коллег (Університет Нагойя, центр RIKEN SPring-8) отримали перше двовимірне зображення наноструктури, яка вміщена в матеріал великого розміру. На основі їх досягнення була розроблена нова система дифракційної рентгенівської мікроскопії, в якій не використовуються лінзи. Головним завданням учених і стало створення такого мікроскопа, який має високу розподільнуздатність, збільшене поле огляду. При цьому дослідники скористалися методикою дифракційної рентгенівської візуалізації (птихо- графією).

Об'єднавши дану методику з випромінюванням, дзеркалами Киркпатрика-Баеза, вчені отримали дифракційні високоякісні дані. Вони сподіваються, що винайдену ними методику будуть використовувати в матеріалознавстві і біологічних дослідженнях.